La tomographie à rayons X au CNES
Pour étudier l'origine de ce comportement électrique, une inspection par tomographie a été réalisée.
La tomographie à rayons X est devenue une technologie essentielle pour la caractérisation d’échantillons en 3D. La tomographie offre la possibilité d'inspecter un échantillon de manière non-destructive et de visualiser à haute résolution les structures internes.
Un scan tomogrpahique rapide peut générer un ensemble de données qui permettent d’évaluer l'aspect structurel, électrique et dimensionnel d'une pièce. L'origine d'un défaut, telle une anomalie de soudure, la présence de porosités, la contamination, un problème d'interconnexion... sera rapidement identifiée.
L'inspection par tomographie à rayons X a été réalisée dans le laboratoire du CNES, sur un équipement RX Solutions EasyTom 160 (système CT de la
Gamme Nano). Ce système, qui combine deux sources de rayons X micro et nano foyers, permet de répondre aux applications les plus difficiles jusqu’à des résolutions de 0,4 µm.