Lancement Metrology Series pour la mesure dimensionnelle

26 janv. 2026
Metrology Series - Mesures dimensionnelles par tomographie
RX Solutions, spécialiste de la tomographie industrielle haute résolution, dévoile la Metrology Series : des systèmes CT optimisés pour la métrologie dimensionnelle 3D répondant aux exigences de l’industrie et de la recherche.
 
Disponibles actuellement sur les plateformes EasyTom S et EasyTom L, ces configurations spécialisées s’adressent à tous les secteurs d'activités, des laboratoires de contrôle qualité et centres R&D aux sites de production (aéronautique, médical, batteries…), où précision, répétabilité et traçabilité sont essentielles.
 

Une architecture optimisée pour la stabilité

La Metrology Series offre une solution complète pour le contrôle dimensionnel non destructif, permettant d’accéder à la fois aux surfaces externes et aux structures internes des pièces, en une seule acquisition. Chaque système garantit une précision certifiée en concordance avec le standard VDI/VDE 2630-1.3, grâce à 3 piliers technologiques :
 
  • Mécanique de précision : base granite massif et amortissement vibratoire avancé
  • Régulation thermique intégrée (±0,5°C) : garantit la reproductibilité des mesures dans les conditions standards VDI/VDE
  • Encodeurs linéaires haute résolution : positionnement répétable et traçabilité géométrique

 

Metrology Series - Mesures dimensionnelles par tomographie
Encodeurs linéaires
Metrology Series - Mesures dimensionnelles par tomographie
Régulation thermique interne
Metrology Series - Mesures dimensionnelles par tomographie
Mécanique de précision

Une précision spécifiée selon le standard VDI/VDE 2630-1.3

Chaque système Metrology Series est caractérisé selon le standard VDI/VDE 2630-1.3. Erreur maximale tolérée sur la mesure de distance entre sphères (MPE_SD) :
  • EasyTom S : 5,5 µm + L/50
  • EasyTom L : 5,5 µm + L/50 (format 25 × 32) ; 6 µm + L/50 (format 43 × 43)

Cette caractérisation s'appuie sur des étalons de référence calibrés (jauges multisphères) et sur des procédures de calibration dédiées.

Un écosystème logiciel dédié dans X-Act

La Metrology Series s'accompagne de fonctions logicielles spécialisées, intégrées au logiciel X-Act :
  • correction avancée, au sous-pixel, de la distorsion du détecteur ;
  • calibration automatique de l'échelle (facteur de grandissement) ;
  • export STL haute qualité, compatible avec les logiciels de métrologie.

Tomographie ou MMT : ce que change la métrologie par tomographie

Contrairement aux machines à mesurer tridimensionnelles (MMT, ou CMM) tactiles ou optiques, la tomographie métrologique contrôle en un seul scan non destructif les géométries externes, les cavités internes, les assemblages et les porosités. Un même tomographe Metrology Series couvre ainsi :

  • la métrologie et l'inspection matière : analyse dimensionnelle, défauts internes, porosités, assemblages multimatériaux, pièces de fabrication additive
  • la comparaison CAO et l'analyse d'assemblage
  • des millions de points 3D acquis en un seul scan, sans programmation complexe
  • une traçabilité complète : calibration, suivi des performances et conformité aux standards industriels.
Metrology Series - Mesures dimensionnelles par tomographie
Roland Le Floc'h
« Avec la Metrology Series, nous offrons aux industriels et aux chercheurs un outil de contrôle dimensionnel sans compromis, alliant précision certifiée [À VALIDER], polyvalence applicative et simplicité d'intégration. C'est une nouvelle étape pour démocratiser la métrologie par tomographie et accompagner la transformation des procédés de fabrication et de contrôle qualité. »

Découvrir les plateformes RX Solutions


Chez RX Solutions, nous proposons 3 gammes de tomographes : gamme Explorer, Nano ou Force. Ces gammes peuvent ensuite être personnalisées par nos Series, afin de matcher vos applicatifs et contraintes métier. Pour les contraintes de production, vous avez la FAB Series et pour les mesures dimensionnelles, la Metrology Series. 


Gammes
EXPLORER
NANO
FORCE
Plateformes
EasyTom S
EasyTom L
EasyTom XL
EasyTom B
EasyTom L
EasyTom XL
UltraTom
EasyTom L
EasyTom B
Series
Metrology Series



Fab Series





Performances
Résolution
        
        
        
        
        
        
        
        
        
Densité de l'échantillon
        
        
        
        
        
        
        
        
        
EXPLORER EasyTom S
Series
Metrology Series   
Fab Series   
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
EXPLORER EasyTom L
Series
Metrology Series   
Fab Series   
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
EXPLORER EasyTom XL
Series
Metrology Series  — 
Fab Series   
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
EXPLORER EasyTom B
Series
Metrology Series  — 
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
NANO EasyTom L
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
NANO EasyTom XL
Series
Metrology Series  — 
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
NANO UltraTom
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
FORCE EasyTom L
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
FORCE EasyTom B
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           



Découvrir les 3 gammes RX Solutions : Force – Explorer et Nano

Pièce dentaire scannée par micro-tomographie Explorer Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique 

EXPLORER

Micro-tomographie polyvalente

2 µm RÉSOLUTION
300 kV TENSION SOURCE
< 1 µm VOXEL MIN.

Révélez l'invisible à l'échelle micronique.

Accédez aux microstructures, porosités et interfaces les plus fines grâce à une résolution jusqu'à l'échelle nanométrique.

Plateformes Easytom S · Easytom L · Easytom XL · EasyTom B
 Découvrir la gamme Explorer      
Structure microscopique analysée en résolution nanométrique Sciences du vivant, Bois

NANO

Analyse nanométrique

250 nm RÉSOLUTION
160 kV TENSION SOURCE
30 nm VOXEL MIN.

Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

Plateformes Easytom L · Easytom XL · Ultratom
 Découvrir la gamme Nano      
Composant électronique inspecté par tomographie haute énergie Force Injecteur en fabrication additive Titane 

FORCE

Solution haute énergie

4 µm RÉSOLUTION
450 kV TENSION SOURCE
250 kgs Pièce jusqu'à

Voyez à travers les matériaux les plus denses.

Inspectez les pièces métalliques épaisses, assemblages complexes et composants fortement absorbants avec une qualité d'image optimale..

Plateformes Easytom L · Easytom B
 Découvrir la gamme Force      

Comment bien identifier mon besoin en tomographie

 


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