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Metrology Seriestomographes industriels pour la métrologie dimensionnelle

Metrology Seriestomographes industriels pour la métrologie dimensionnelle

Échanger avec un expert métrologie
AccueilMetrology Series
450kV

Système compatible jusqu'à

6 configurations

Disponibles en Metrology Series

0.5 °C

Régulation thermique interne

Metrology Series - Tomographe pour la mesure dimensionnelle 3D

Tomographes industriels pour la mesure dimensionnelle

La Metrology Series est une gamme de tomographes industriels conçus pour la métrologie dimensionnelle 3D : ils mesurent, en un seul scan et sans destruction, les géométries internes et externes d'une pièce, avec une erreur maximale tolérée (MPE) définie selon le référentiel VDI/VDE 2630-1.3.

La tomographie par rayons X permet des analyses tridimensionnelles complètes, internes et externes, en un seul scan et de manière non destructive (NDT).

Pour les mesures dimensionnelles, des méthodes traditionnelles ont longtemps dominé : machines à mesurer tridimensionnelles (MMT) tactiles, scanners optiques 3D, systèmes de vision, bras de mesure portables. Chacune excelle dans son domaine : les MMT pour la haute précision point par point, les scanners optiques pour la rapidité sur grandes surfaces, les systèmes de vision pour les mesures 2D, les bras portables pour la flexibilité sur site. Ces méthodes restent pertinentes pour de nombreuses applications. Elles partagent cependant une limite : elles ne permettent pas d'accéder aux géométries internes sans découpe ni désassemblage.

La tomographie CT lève cette limite avec une vision volumétrique complète, tout en préservant l'intégrité de la pièce. Elle reconstruit le volume 3D complet et mesure simultanément les géométries internes et externes, les épaisseurs de paroi, les tolérances géométriques et dimensionnelles (GD&T, tolérancement géométrique) et les écarts CAO / pièce réelle, avec une densité de données hors de portée des approches traditionnelles.

Mais transformer cette capacité en résultats métrologiques fiables demande plus qu'un simple scanner CT. C'est le rôle de la Metrology Series : des systèmes conçus pour la métrologie dimensionnelle de haute précision, avec une MPE clairement définie et des performances vérifiées selon la norme VDI/VDE 2630. Ils assurent traçabilité, répétabilité et comparabilité des résultats dans le temps, avec des preuves métrologiques auditables.

La Metrology Series est disponible sur les configurations EasyTom S Metrology (pièces petites à moyennes) et EasyTom L Metrology (grandes pièces, haute flexibilité), qui allient la puissance de la tomographie 3D à la rigueur des équipements de métrologie industrielle. Elle répond aux besoins des équipes R&D, d'industrialisation et qualité : décisions plus précises, cycles de développement raccourcis, contrôle en série fiabilisé.

Metrology Series - Mesures dimensionnelles par tomographie

Metrology SeriesVDI/VDE 2630 : le référentiel de la métrologie par CT

Comment garantir la traçabilité des mesures dimensionnelles par CT ?

 
 Un scanner CT peut produire de magnifiques images 3D et révéler les structures internes d'une pièce. Mais cela ne fait pas de lui un système de métrologie. La différence : la vérification de ses performances selon la VDI/VDE 2630.

Qu'est-ce que la norme VDI/VDE 2630 ?

Développée par l'Association des ingénieurs allemands (VDI) et l'Association Allemande d'Électrotechnique (VDE), cette norme définit les méthodes standardisées pour :

  • Tester et qualifier la performance métrologique d’un système CT
  • Déterminer l’Erreur Maximale Tolérée (MPE) du système
  • Établir des protocoles de vérification périodique
  • Garantir la traçabilité des mesures selon les normes internationales

Ce que garantit la certification VDI/VDE :

  • Traçabilité — chaque mesure peut être reliée à des artefacts certifiés 
  • Répétabilité — les résultats restent stables dans le temps 
  • Comparabilité — les résultats peuvent être comparés entre différents systèmes 
  • Documentation — un rapport de performance officiel est fourni

La Metrology Series chez RX Solutions

Les systèmes Metrology Series se distinguent par une approche dédiée à la métrologie dimensionnelle par tomographie. Au-delà de la conformité à la VDI/VDE 2630-1.3 et à l'ASME B89.4.23, ils intègrent des technologies matérielles et logicielles propres à la Metrology Series, pour la stabilité, la traçabilité et la répétabilité de vos mesures au quotidien.

Un hardware dédié à la précision 

Encodeurs linéaires
Encodeurs linéaires
Amortisseurs
Amortisseurs
Régulation thermique interne
Régulation thermique interne
Encodeurs linéaires
Précision au micron avec compensation du jeu mécanique, pour une excellente répétabilité de mouvement.
×
Amortisseurs
Associés à un socle en granit très stable, ils isolent le système des vibrations extérieures.
×
Régulation thermique interne
La régulation thermique interne maintient les composants critiques (détecteur, source X, manipulateur) à une température stable de ±0,5°C. Cela permet stabilité et répétabilité dans le temps, tout en éliminant les dérives thermiques durant les scans. 
×

Outils logiciels dédiés à la Metrology Series

Un workflow logiciel optimisé pour la métrologie

Plug-in Scaling Error : correction automatique de l’échelle

Il détermine précisément le grandissement réel du système. Il détecte automatiquement la barre à billes (ball-bar) certifiée et applique une correction d'échelle qui compense les micro-variations thermiques et géométriques.

Export STL avancé avec détermination de surface au sous-pixel

L'export STL intégré utilise des algorithmes de détermination de surface au sous-pixel, qui extraient les géométries avec une précision supérieure à la taille du voxel.

Compatibilité totale avec les principaux logiciels de métrologie

Les systèmes Metrology Series sont nativement compatibles avec :

- VGSTudio Max
- PolyWorks Inspector
- VG Inline

Support et Calibration Métrologique

Traçabilité et performance garanties dans le temps

Calibration usine complète

Avant livraison, chaque système Metrology Series subit une double calibration en usine : correction de distorsion du détecteur et orientation ultra-fine. Cette calibration garantit la conformité à la VDI/VDE 2630-1.3 dès l'installation. Un rapport BEP (Best Equipment Performance) documentant les tests de performance est fourni avec chaque système.

Support et recalibration annuelle 

Notre programme de support dédié inclut une vérification des performances annuelle (ou plus fréquente si nécessaire). En cas de dérive détectée, une recalibration sur site est effectuée par nos équipes pour maintenir la conformité VDI/VDE 2630-1.3 tout au long du cycle de vie du système. 

Jauge ball-bar certifiée incluse

 Chaque système est livré avec une ball-bar 100mm certifiée permettant la correction d'échelle quotidienne automatique via le plug-in Scaling Error. Cette jauge garantit la traçabilité aux instituts nationaux (PTB, NIST, LNE) et permet des vérifications régulières des performances métrologiques du système. 


Conformité métrologique garantie

 
Grâce à la calibration usine initiale, aux outils de vérification quotidienne (ball-bar) et au programme de maintenance annuelle, vos systèmes Metrology Series restent conformes aux standards métrologiques VDI/VDE 2630-1.3 et ASME B89.4.23 dans le temps.

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Échanger autour de mon application métrologique


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Metrology SeriesQuelle plateforme de tomographie pour votre application métrologie ? 

Que vous exploitiez la gamme Explorer, Nano ou Force, la Metrology Series vous permet de personnaliser votre tomographe industriel selon les contraintes réelles de votre activité. Deux plateformes avec 6 configurations sont aujourd'hui compatibles Metrology Series, pour s'ajuster précisément à vos prérequis : espace disponible, taille et poids des pièces à inspecter et mesurer.
Gammes
EXPLORER
NANO
FORCE
Plateformes
EasyTom S
EasyTom L
EasyTom XL
EasyTom B
EasyTom L
EasyTom XL
UltraTom
EasyTom L
EasyTom B
Series
Metrology Series



Fab Series





Performances
Résolution
        
        
        
        
        
        
        
        
        
Densité de l'échantillon
        
        
        
        
        
        
        
        
        
EXPLORER EasyTom S
Series
Metrology Series   
Fab Series   
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
EXPLORER EasyTom L
Series
Metrology Series   
Fab Series   
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
EXPLORER EasyTom XL
Series
Metrology Series  — 
Fab Series   
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
EXPLORER EasyTom B
Series
Metrology Series  — 
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
NANO EasyTom L
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
NANO EasyTom XL
Series
Metrology Series  — 
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
NANO UltraTom
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
FORCE EasyTom L
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           
FORCE EasyTom B
Series
Metrology Series   
Fab Series  — 
Performances
Résolution           
Densité de l'échantillon           

Plateformes pour la tomographie

EasyTom S
EasyTom S
EasyTom L
EasyTom L
EasyTom S
N° d'axes : 4+2 (platine de centrage en option)
Max SSD : 612 mm
Max volume de scan : Ø 230 mm x H 380 mm
Max résolution : 5 µm

Échantillons   

Max taille échantillon : Ø 300 mm x 410 mm
Max poids échantillon : 5 kg
Chargeur interne 6 : Ø 45 mm x H 155 mm
Chargeur interne 3 : Ø 175 x H 155 mm

Général   
Poids : 1020 kg
Dimensions : 1345(W) x 900(D) x 1870(H) mm
×
EasyTom L
N° d'axes : 6+2* (*platine de centrage en option)
Max SSD : 1015 mm
Max volume de scan : Ø 500 mm x H 580 mm
Max résolution : 4 µm

 Échantillons  
Max taille échantillon : Ø 685 mm x 900 mm
Max poids échantillon : 30 - 80 kg
Chargeur interne 6 : Ø 70 mm x H 220 mm
Chargeur interne 3 : Ø 120 x H 220 mm

 Général   
Poids : 3700 kg - 5850 kg
Dimensions : 2400 (W) × 1200 (D) × 2000 (H) mm
×

Configurations EasyTom S et MPE


EasyTom S 150 — détecteur 25x32 : VCI/VDE 2630-1.3 MPE SD : 5,5 µm + L/50

Configurations EasyTom L et MPE


EasyTom L 230 — détecteur 25x32 : VCI/VDE 2630-1.3 MPE SD : 5,5 µm + L/50
EasyTom L 230 — détecteur 43x43 : VCI/VDE 2630-1.3 MPE SD : 6 µm + L/50
EasyTom L 300 — détecteur 25x32 : VCI/VDE 2630-1.3 MPE SD : 5,5 µm + L/50
EasyTom L 300 — détecteur 43x43 : VCI/VDE 2630-1.3 MPE SD : 6 µm + L/50
EasyTom L 450 — détecteur 43x43 : VCI/VDE 2630-1.3 MPE SD : 5,5 µm + L/50

Vous hésitez sur la plateforme ?        

Contactez un expert RX
Nos spécialistes vous accompagnent pour évaluer la faisabilité de votre projet et identifier la configuration la plus adaptée à vos besoins.

Metrology SeriesLes atouts de la Metrology Serie chez RX Solutions

01

Précision matérielle

Encodeurs linéaires, amortisseurs de vibrations sur socle en granit et régulation thermique interne de ±0,5 °C : chaque composant est pensé pour limiter la dérive et assurer une excellente répétabilité de mesure.
02

Logiciels dédiés métrologie

Plug-in Scaling Error pour la correction automatique de l'échelle et export STL avec détermination de surface au sous-pixel : des fonctions natives, pensées pour la métrologie.
03

Calibration usine garantie

Double calibration en usine avant livraison, rapport BEP fourni, vérification et recalibration annuelle sur site : la conformité est assurée dès l'installation et maintenue dans le temps.
04

Conformité certifiée

Systèmes conformes à la VDI/VDE 2630-1.3 et à l'ASME B89.4.23, avec traçabilité vers les instituts nationaux (PTB, NIST, LNE) : des preuves métrologiques solides et auditables.

Découvrez nos gammes

Vous hésitez encore sur le tomographe et sa personnalisation qui vous correspond le mieux ? Découvrez comment qualifier votre besoin : 

Qualifier mon besoin

Découvrez également nos 3 gammes : Explorer - Nano - Force

Pièce dentaire scannée par micro-tomographie Explorer Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique 

EXPLORER

Micro-tomographie polyvalente

2 µm RÉSOLUTION
300 kV TENSION SOURCE
< 1 µm VOXEL MIN.

Révélez l'invisible à l'échelle micronique.

Accédez aux microstructures, porosités et interfaces les plus fines grâce à une résolution jusqu'à l'échelle nanométrique.

Plateformes Easytom S · Easytom L · Easytom XL · EasyTom B
 Découvrir la gamme Explorer      
Structure microscopique analysée en résolution nanométrique Sciences du vivant, Bois

NANO

Analyse nanométrique

250 nm RÉSOLUTION
160 kV TENSION SOURCE
30 nm VOXEL MIN.

Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

Plateformes Easytom L · Easytom XL · Ultratom
 Découvrir la gamme Nano      
Composant électronique inspecté par tomographie haute énergie Force Injecteur en fabrication additive Titane 

FORCE

Solution haute énergie

4 µm RÉSOLUTION
450 kV TENSION SOURCE
250 kgs Pièce jusqu'à

Voyez à travers les matériaux les plus denses.

Inspectez les pièces métalliques épaisses, assemblages complexes et composants fortement absorbants avec une qualité d'image optimale..

Plateformes Easytom L · Easytom B
 Découvrir la gamme Force      

FAQ METROLOGY Series

Qu'est ce que la Metrology Series de RX Solutions ?
La Metrology Series est une gamme de systèmes de tomographie industrielle (CT) conçus pour la métrologie dimensionnelle 3D. Elle permet la mesure non-destructive des caractéristiques internes et externes des pièces, avec une précision garantie selon la norme VDI/VDE 2630 et intègrent des composants matériels et logiciels dédiés à la traçabilité, la répétabilité et la précision certifiée des mesures.
Que signifie le MPE pour mes mesures ?
Le MPE est l’erreur maximale admissible mesurée selon VDI/VDE 2630, avec des artefacts calibrés en conditions contrôlées. Il indique le potentiel métrologique du système CT, utile pour comparer différentes machines et établir des protocoles de vérification, mais ne garantit pas la précision de chaque mesure individuelle.
Pourquoi choisir la tomographie pour faire de la métrologie dimensionnelle ?
La tomographie CT offre une analyse tridimensionnelle complète, permettant de mesurer simultanément les géométries internes et externes, les épaisseurs de paroi, les tolérances GD&T et les écarts CAO/réel, en un seul scan et sans destruction de la pièce contrairement aux méthodes de mesures traditionnelles.
Quelle est la différence entre un tomographe standard et un tomographe Metrology Series ?
Contrairement aux tomographes standards, la Metrology Series intègre des technologies matérielles et logicielles dédiées à la métrologie : encodeurs linéaires, régulation thermique ±0,5°C, calibration usine, correction de distorsion, et conformité VDI/VDE 2630. Elle garantit traçabilité, répétabilité et comparabilité des résultats.
Que signifie la certification VDI/VDE 2630-1.3 pour mes mesures ?
VDI/VDE 2630-1.3 est la norme allemande de référence pour certifier les performances métrologiques des systèmes CT. Elle garantit traçabilité (remontée aux standards nationaux), répétabilité (stabilité dans le temps), comparabilité et documentation officielle des performances.
Quels logiciels sont compatibles avec la Metrology Series ? ?
Les systèmes Metrology Series sont nativement compatibles avec les principaux logiciels de métrologie dimensionnelle : VGStudio Max, Polyworks Inspector, Geomagic Control X, VG Inline, et proposent des exports STL avancés avec détermination sub-pixel.
Un tomographe industriel peut-il remplacer les autres méthodes de mesure (CMM, optique, vision, robot) ?
La CT métrologique est complémentaire aux méthodes traditionnelles. Elle excelle pour les mesures volumétriques, internes et complexes, tandis que les CMM et scanners optiques restent pertinents pour la haute précision sur surfaces accessibles et les contrôles rapides en ligne.

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