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Metrology Series

La tomographie au service de la metrologie

Metrologie dimensionnelle par tomographie

Metrology Series

Tomographes industriels certifiés VDI/VDE 2630 pour la métrologie

La tomographie par rayons X a révolutionné la recherche, mais aussi le contrôle qualité industriel en permettant des analyses tridimensionnelles complètes (lien page appli tomo), internes et externes, en un seul scan et surtout de manière non destructif (NDT).
 
Pour les mesures dimensionnelles, des méthodes plus traditionnelles ont longtemps dominé le sujet — machines de mesure tridimensionnelles (MMT) tactiles, scanners optiques 3D, systèmes de vision, bras de mesure portables — ont longtemps dominé. Chacune excelle dans son domaine : les MMT pour la haute précision point par point, les scanners optiques pour la rapidité sur grandes surfaces, les systèmes de vision pour les mesures 2D, et les bras portables pour la flexibilité sur site. Ces méthodes restent pertinentes et continueront de l'être pour de nombreuses applications. Cependant, elles partagent une limitation commune : l'impossibilité d'accéder aux géométries internes sans découpe ou désassemblage. 
 
 
La tomographie CT résout ce défi La tomographie CT résout ce défi en offrant une vision volumétrique complète tout en préservant l'intégrité de la pièce. Elle reconstruit le volume 3D complet et permet de mesurer simultanément géométries internes et externes, épaisseurs de paroi, tolérances géométriques et dimensionnelles (GD&T), et écarts CAO/réel, avec une densité de données inatteignable par les approches traditionnelles.
 
Mais transformer cette capacité technologique en résultats métrologiques fiables nécessite plus qu'un simple scanner CT. C'est là qu'intervient notre Metrology Series : des systèmes de tomographie industrielle conçus spécifiquement pour la métrologie dimensionnelle haute précision. Certifiés selon la norme VDI/VDE 2630, avec une erreur maximale admissible (MPE) clairement définie et des performances vérifiées, ces plateformes garantissent traçabilité, répétabilité et comparabilité des résultats dans le temps — des preuves métrologiques solides et auditables.
 
Disponibles sur les configurations EasyTom S Metrology (pièces petites à moyennes) et EasyTom L Metrology (grandes pièces et haute flexibilité), ces systèmes allient la puissance de la tomographie 3D à la rigueur des équipements de métrologie industrielle. Cette solution répond aux besoins des équipes R&D, industrialisation et qualité : décisions plus précises, cycles de développement raccourcis, et contrôle série fiabilisé.
VDI/VDE MPE Metrology

VDI/VDE 2630 : la certification métrologique de référence

Comment garantir la tracabilité des mesures dimensionnelles par CT 

 Un scanner CT peut produire de magnifiques images 3D et révéler les structures internes d'une pièce. Mais cela ne fait pas de lui un système de métrologie. La différence ? La certification selon la norme VDI/VDE 2630.
 

Qu'est ce que la norme VDI/VDE 2630 ?

Développée par l'Association des Ingénieurs Allemands (VDI) et l'Association Allemande d'Électrotechnique (VDE), cette norme définit les méthodes standardisées pour :

 
  • Tester et qualifier les performances métrologiques d'un système CT
  • Déterminer l'erreur maximale admissible (MPE) du système
  • Etablir des protocoles de vérification périodique
  • Garantir la traçabilité des mesures selon les standards
  •  
    Ce que garantit la certification :
    Traçabilité : chaque mesure peut être reliée à des étalons nationaux/internationaux
    Répétabilité : les mesures sont stables dans le temps
    Comparabilité : vos résultats peuvent être comparés avec d'autres systèmes certifiés
    Documentation : rapport BEP (Best Examination Practice) attestant des performances
     
    ___________________________________________________________________________________________________ 
     
    MPE Maximum permissible error - Metrology

    MPE : Comprendre l'indicateur clé de performance métrologique

    Le MPE (Maximum Permissible Error) est l'erreur maximale admissible mesurée selon la norme VDI/VDE 2630, en utilisant des artefacts calibrés sous conditions contrôlées. Mais que signifie-t-il réellement pour vos mesures quotidiennes ?
    Ce que le MPE indique
    • Un niveau de performance global que la machine peut atteindre
    • Un critère de comparaison entre différents systèmes CT
    • Une valeur de précision traçable obtenue par des tests standardisés
     Ce que le MPE ne garantit PAS
    Le MPE n'est pas une garantie que chaque mesure individuelle tombera sous cette valeur. Pourquoi ? Parce que la précision d'une mesure CT dépend fortement de :
    •  Le matériau de la pièce (densité, contraste)
    •  Le positionnement de la pièce dans le volume de mesure
    •  Les paramètres d'acquisition (tension, courant, temps d'intégration)
    •  Les algorithmes de reconstruction utilisés
    •  La géométrie de la pièce (complexité, taille des features)

    Le MPE ne représente donc pas la précision réelle en production, mais un potentiel métrologique mesuré dans des conditions standardisées. C'est un indicateur standardisé du potentiel métrologique d'un système CT, utile pour :
    • Comparer différentes machines
    • Comprendre les limites métrologiques du système
    • Établir des protocoles de vérification périodique
     

    La Metrology Series chez RX Solutions 

    Les systèmes RX Solutions Metrology Series se démarquent par une approche dédiée à la métrologie dimensionnelle par tomographie. Au-delà de la conformité VDI/VDE 2630-1.3 et ASME B89.4.23, nos tomographes intègrent des technologies matérielles et logicielles exclusives  à la Metrology Series garantissant stabilité, traçabilité et répétabilité au quotidien pour vos mesures.
     

    Un hardware dédié à la précision 

    Régulation thermique interne

    La régulation thermique interne maintient les composants critiques (détecteur, source X, manipulateur) à une température stable de ±0,5°C. Cela permet stabilité et répétabilité dans le temps, tout en éliminant les dérives thermiques durant les scans. 

    Amortisseurs

    En plus d'une table en granit extrêment stable, des amortisseurs isolent la table des vibrations externes pour des mesures stables et répétables même en environnement industriel. 

    Encodeurs linéaires

    Encodeurs linéaires et compensation du jeu mécanique (backlash) pour une précision au micron lors des déplacements et une répétabilité de positionnement inégalées

    Régulation thermique interne

    La régulation thermique interne maintient les composants critiques (détecteur, source X, manipulateur) à une température stable de ±0,5°C. Cela permet stabilité et répétabilité dans le temps, tout en éliminant les dérives thermiques durant les scans. 

    Amortisseurs

    En plus d'une table en granit extrêment stable, des amortisseurs isolent la table des vibrations externes pour des mesures stables et répétables même en environnement industriel. 

    Encodeurs linéaires

    Encodeurs linéaires et compensation du jeu mécanique (backlash) pour une précision au micron lors des déplacements et une répétabilité de positionnement inégalées

    Outils logiciels dédiés à la Metrology Series

    Un workflow logiciel optimisé pour la métrologie

    Plug-in Scaling Error

    Permet une détermination précise du grandissement réel du système. Détecte automatiquement la ball-bar certifiée et applique une correction d'échelle qui compense les micro-variations thermiques et géométriques.

    Export STL avancé

    L'export STL intégré utilise des algorithmes de détermination de surface sub-pixel qui extraient les géométries avec une précision supérieure à la taille voxel.

    Compatibilité logiciels de métrologie

    Les scans de la Metrology Series sont nativement compatibles avec :

    • VG Studio
    • VG Inline
    • Polyworks
    Logiciel avancé pour la métrologie par tomographie

    Support et Calibration Métrologique
    Traçabilité et performance garanties dans le temps

    Calibration usine

    Calibration usine complète

    Avant livraison, chaque système Metrology Series subit une double calibration en usine : correction de distorsion du détecteur et orientation ultra-fine. Cette calibration garantit la conformité VDI/VDE 2630-1.3 dès l'installation. Un rapport BEP (Best Equipment Performance) documentant les tests de performance est fourni avec chaque système.
    Ball-bar certifiée

    Jauge ball-bar certifiée incluse

     
    Chaque système est livré avec une ball-bar 100mm certifiée permettant la correction d'échelle quotidienne automatique via le plug-in Scaling Error. Cette jauge garantit la traçabilité aux instituts nationaux (PTB, NIST, LNE) et permet des vérifications régulières des performances métrologiques du système. 
    Support dédié

    Support et recalibration annuelle

     
    Notre programme de support dédié inclut une vérification des performances annuelle (ou plus fréquente si nécessaire). En cas de dérive détectée, une recalibration sur site est effectuée par nos équipes pour maintenir la conformité VDI/VDE 2630-1.3 tout au long du cycle de vie du système. 
    Conformité garantie

    Conformité métrologique garantie

     
    Grâce à la calibration usine initiale, aux outils de vérification quotidienne (ball-bar) et au programme de maintenance annuelle, vos systèmes Metrology Series restent conformes aux standards métrologiques VDI/VDE 2630-1.3 et ASME B89.4.23 dans le temps. 

    Nos configurations machines certifiées 


    EasyTom L 230 - 25x32 detector
    VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50


    Découvrir la plateforme EasyTom L

    EasyTom L 300 - 25x32 detector
    VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50


    Découvrir la plateforme EasyTom L

    EasyTom L 450 - 43x43 detector
    VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50


    Découvrir la plateforme EasyTom L 450

    EasyTom L 230 - 43x43 detector
    VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 6 µm + L/50


    Découvrir la plateforme EasyTom L

    EasyTom L 300 - 43x43 detector
    VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 6 µm + L/50


    Découvrir la plateforme EasyTom L

    EasyTom S 150 - 25x32 detector
    VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50


    Découvrir la plateforme EasyTom S