Définir mon besoin en tomographie

Chaque projet de tomographie répond à des exigences propres. Un laboratoire de recherche ne cherche pas la même chose qu'une ligne de contrôle qualité en production : résolution, matériau à traverser, taille de pièce, cadence, niveau d'automatisation — chaque critère oriente vers une configuration machine différente.

Depuis 20 ans, RX Solutions conçoit des systèmes de tomographie modulaires, capables de s'adapter à ces exigences plutôt que d'imposer une solution figée. De la micro-CT à la nano-CT, nos générateurs, imageurs, plateformes et options d'automatisation se combinent pour répondre précisément à votre usage, qu'il s'agisse de caractériser des microstructures en recherche, de détecter des défauts internes en contrôle qualité, ou d'automatiser des inspections en production.

C’est pourquoi, pour vous orienter, nous partons de votre besoin : Identifiez ci-dessous le critère qui compte le plus pour vous — niveau de détail, matériau, taille de pièce, automatisation ou type d'analyse — et découvrez la configuration adaptée.

Trouver la configuration adaptée à votre application
Obtenez une recommandation basée sur votre niveau de détail, vos matériaux et vos contraintes d'inspection. Réponse sous 48h.

Les 5 critères pour choisir un système de tomographie industrielle

Quel niveau de détail souhaitez-vous observer ? Trouvez la résolution adaptée.

Le niveau de détail que vous souhaitez atteindre est un critère déterminant dans le choix de votre système de tomographie. Plus les éléments à observer sont petits, plus la résolution doit être fine pour les distinguer avec précision.

Comme l'illustre ce schéma, plus la taille de l'objet à analyser diminue, plus la résolution nécessaire pour le caractériser augmente. RX Solutions couvre l'ensemble de ce spectre grâce à 3 familles de générateurs — Mesofocus, Microfocus, Nanofocus — intégrées dans ses gammes Explorer , Nano et Force, avec des niveaux de détail accessibles de plus de 35 µm jusqu'à 0,25 µm selon les configurations.

Que peut-on réellement voir à chaque niveau de résolution ?

< 35 µm

5 - 20 µm

5µm

1µm

250 nm

Défauts importants de fonderie, soufflures et retassures, contrôle dimensionnel global de pièces

Porosités de pièces injectées, défauts d'assemblage et de brasage, fissures fines

Fibres de composites, porosités fines, défauts d'impression 3D métal, contrôle de soudures électroniques

Microfissures, interfaces matériaux, défauts de collage, structure cellulaire...

Microstructure des matériaux, nanoporosités, interfaces submicroniques, composants électroniques avancés

Comment déterminer la résolution dont vous avez besoin ?

Une règle simple consiste à viser une résolution au moins trois fois plus fine que le défaut recherché.
Par exemple :

défaut attendu de 30 µm → résolution cible de 10 µm ;
défaut attendu de 10 µm → résolution cible de 3 µm ;
défaut attendu de 3 µm → résolution cible inférieure à 1 µm.

Nos experts vous accompagnent dans la définition de ce niveau de détail afin d'éviter le surdimensionnement du système tout en garantissant la qualité de l'analyse

Échanger sur mon projet avec un expert

Résolution submicron – pour l’analyse ultra-fine

Pour la caractérisation la plus fine (jusqu'à 0,25 µm), nos générateurs nanofocus offrent une résolution submicronique. C'est le niveau requis pour l'analyse de microstructures, la recherche avancée ou le contrôle ultra-détaillé de pièces critiques. À cette échelle, il devient possible de visualiser des détails jusqu'à 400 fois plus fins qu'un cheveu humain.

Exemples : analyse de microstructures de matériaux, caractérisation de poudres pour fabrication additive, étude des électrodes de batteries, observation de fibres composites, recherche académique et scientifique…

Générateur ouvert : Nano Ultra

Résolution atteinte : 250 nm
Tension : 160 kV

Générateur ouvert : Nano Access

Résolution atteinte : 0,9 µm
Tension : 160 kV

Découvrir la gamme Nano

Structure poreuse observée en analyse nanométrique

Sciences du vivant, Bois

Plateformes Easytom L Easytom XL Ultratom

Révélez l'invisible à l'échelle submicronique.

Accédez aux microstructures, porosités et interfaces les plus fines grâce à une résolution jusqu'à l'échelle nanométrique.

250 nm Résolution

160 kV Tension source

30 nm Voxel min.

Résolution micro-CT – le meilleur compromis pour l’industrie

Pour la grande majorité des usages d'inspection et de contrôle qualité, nos générateurs microfocus couvrent une plage de résolution pouvant descendre jusqu'à 2µm. C'est le compromis le plus polyvalent entre finesse de détail et rapidité d'analyse, adapté aussi bien à la recherche qu'à la production.

Cette plage de résolution permet déjà de détecter des porosités, inclusions, délaminages ou défauts internes invisibles en inspection visuelle.

Exemples : inspection de composants électroniques, d'une pièce plastique injectée ou d'une batterie lithium-ion, contrôle de fabrication additive, inspection de composites…

Générateur scellé – microfoyer 110 kV

Résolution minimale : 2 µm
Tension max. : 110 kV

Générateur scellé – microfoyer 130 kV

Résolution minimale : 5 µm
Tension max. : 130 kV

Générateur scellé – microfoyer 150 kV

Résolution minimale : 5 µm
Tension : 150 kV

Générateur scellé – microfoyer 230 kV

Résolution minimale : 2 µm / 4µm
Tension max. : 230 kV

Générateur scellé – microfoyer 300 kV

Résolution minimale : 4 µm
Tension max. : 300 kV

Découvrir la gamme Explorer

Pièce imprimée en 3D scannée en micro-tomographie

Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique

Plateformes Easytom S Easytom L Easytom XL Easytom B

Explorez tous vos matériaux avec un seul tomographe.

De la R&D au contrôle qualité, combinez résolution, flexibilité et polyvalence pour inspecter une grande variété de pièces et matériaux.

2 µm Résolution

300 kV Tension source

< 1 µm Voxel min.

Résolution mésofocus pour les grandes pièces

Pour l'inspection de pièces plus volumineuses ou dans des contextes où la vitesse d'analyse prime sur le niveau de détail (au-delà de 35 µm), nos générateurs mesofocus offrent la puissance nécessaire pour traverser des pièces plus épaisses tout en conservant une image exploitable. Même si la résolution est moins fine, ces systèmes permettent de révéler des défauts internes impossibles à détecter par des méthodes conventionnelles.

Exemples : inspection de pièces aéronautiques, inspection d'un implant médical en titane, analyse de composants automobiles, inspection de sous-ensembles métalliques complexes.

Générateur scellé – mesofoyer - 225 kV

Résolution minimale : 50 µm
Tension max. : 225 kV

Générateur scellé – mesofoyer - 450 kV

Résolution minimale : 50 µm
Tension max. : 450 kV

Découvrir la gamme Force

Assemblage électronique scanné en tomographie haute énergie

Injecteur en fabrication
additive Titane

Plateformes Easytom L Easytom B

Voyez à travers les matériaux les plus denses.

Inspectez les pièces métalliques épaisses, assemblages complexes et composants fortement absorbants avec une qualité d'image optimale.

4 µm Résolution

450 kV TeNSION SOURCE

67 mm Fe PENETRATION.

Je souhaite échanger directement avec un expert sur les solutions de tomographie.

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Pénétration matériaux - tomographie industrielle

Choisir son système de tomographie selon le matériau et l'épaisseur à inspecter

TABLEAU
DES BESOINS

Type de matériau	Exemples d'applications	Gamme recommandée
Polymères & plastiques	Pièces injectées, emballages, dispositifs médicaux, fabrication additive polymère	Explorer
Composites	Fibres carbone, fibres de verre, matériaux sandwich, aéronautique	Explorer / Nano
Métaux légers	Aluminium, titane, implants médicaux	Explorer
Métaux denses	Acier, cuivre, fonte, soudures, pièces de fonderie	Force
Assemblages multi-matériaux	Batteries, électronique, assemblages métal / plastique	Explorer / Force + logiciel Horus
Matériaux avancés & recherche	Microstructures, poudres, céramiques, matériaux innovants	Nano

Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique

EXPLORER

Micro-tomographie polyvalente

2 µm RÉSOLUTION

300 kV TENSION SOURCE

< 1 µm VOXEL MIN.

Révélez l'invisible à l'échelle micronique.

Accédez aux microstructures, porosités et interfaces les plus fines grâce à une résolution jusqu'à l'échelle nanométrique.

Plateformes Easytom S · Easytom L · Easytom XL · EasyTom B

Découvrir la gamme Explorer

Sciences du vivant, Bois

NANO

Analyse nanométrique

250 nm RÉSOLUTION

160 kV TENSION SOURCE

30 nm VOXEL MIN.

Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

Plateformes Easytom L · Easytom XL · Ultratom

Découvrir la gamme Nano

Injecteur en fabrication additive Titane

FORCE

Solution haute énergie

4 µm RÉSOLUTION

450 kV TENSION SOURCE

250 kgs Pièce jusqu'à

Voyez à travers les matériaux les plus denses.

Inspectez les pièces métalliques épaisses, assemblages complexes et composants fortement absorbants avec une qualité d'image optimale..

Plateformes Easytom L · Easytom B

Découvrir la gamme Force

Échanger avec un expert sur mon application

La densité seule ne suffit pas

Tous les matériaux ne réagissent pas de la même manière aux rayons X. Leur densité et leur épaisseur influencent directement la capacité du système à les traverser et à produire une image exploitable pour la reconstruction.
Plus la matière est dense, plus il faut un générateur avec une tension (kV) élevée pour la traverser et obtenir une image exploitable.

Chez RX Solutions, nous adaptons la configuration du système — notamment le générateur — pour assurer le bon compromis entre pénétration du matériau et qualité d’image.

Epaisseur matière - tomographie industrielle

Chaque type de générateur correspond à une capacité de pénétration différente selon le matériau et son épaisseur

Aluminium

Plastique pour injection

Fibre de carbone

Matériaux légers : priorité à la finesse de détail, maximiser la résolution

Carbone, polymères et aluminium sont des matériaux peu absorbants et laissent facilement passer les rayons X.

Ils peuvent donc être inspectés avec des générateurs de plus faible puissance, ce qui permet de privilégier une résolution très fine. Vous pourrez observer des porosités, des fissures, des fibres, des inclusions, les géométries internes…
L’on va retrouver souvent les générateurs entre 110 – 220 kV - idéal pour les composites, métaux légers et pièces plastiques.

Découvrir la gamme nano Découvrir la gamme Explorer

Cadran montre titane et fibre de carbone

Matériaux intermédiaires et alliages légers : le meilleur compromis entre performance et polyvalence

Aluminium, titane ou alliages techniques représentent l'un des cas les plus fréquents en contrôle qualité industriel où l'on recherche à la fois précision et efficacité.

Ces matériaux nécessitent un équilibre entre capacité de pénétration et niveau de détail. Nos générateurs jusqu'à 230 kV offrent la puissance suffisante pour ces cas tout en conservant une bonne résolution.

Découvrir la gamme Explorer

Découvrir la FAB Series

Ecrous en cuivre

Béton

Matériaux denses : révéler l’invisible malgré l’épaisseur

Cuivre, fer et pièces métalliques épaisses demandent une tension bien supérieure aux autres matériaux. Nos générateurs haute énergie, jusqu'à 450 kV, permettent de traverser jusqu'à 35mm de cuivre tout en conservant une image nette — pour l'inspection de pièces denses ou d'assemblages complexes.

Découvrir la gamme Force

Tomographie industrielle - multi-matériaux

Pièce multi-matériaux - reconstruction classique

Pièce multi-matériaux - reconstruction Horus

Assemblages multimatériaux : l’un des défis les plus complexes

Dans de nombreuses applications industrielles, les pièces ne sont pas constituées d’un seul matériau.
Pour les assemblages combinant plusieurs matériaux de densités différentes, l'inspection est plus complexe : les épaisseurs traversées se cumulent, et des artefacts de reconstruction peuvent apparaître aux interfaces entre matériaux.

RX Solutions propose des solutions logicielles dédiées — notamment Horus en complément du logiciel X-Act reconstruction — pour maîtriser cette complexité et garantir une reconstruction fiable.

Découvrir HORUS

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Gammes

EXPLORER

NANO

FORCE

Plateformes

EasyTom S

EasyTom L

EasyTom XL

EasyTom B

EasyTom L

EasyTom XL

UltraTom

EasyTom L

EasyTom B

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom S

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom XL

Series

Metrology Series —

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom B

Series

Metrology Series —

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO EasyTom XL

Series

Metrology Series —

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO UltraTom

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

FORCE EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

FORCE EasyTom B

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique

EXPLORER

Micro-tomographie polyvalente

2 µm RÉSOLUTION

300 kV TENSION SOURCE

< 1 µm VOXEL MIN.

Révélez l'invisible à l'échelle micronique.

Accédez aux microstructures, porosités et interfaces les plus fines grâce à une résolution jusqu'à l'échelle nanométrique.

Plateformes Easytom S · Easytom L · Easytom XL · EasyTom B

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Sciences du vivant, Bois

NANO

Analyse nanométrique

250 nm RÉSOLUTION

160 kV TENSION SOURCE

30 nm VOXEL MIN.

Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

Plateformes Easytom L · Easytom XL · Ultratom

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Injecteur en fabrication additive Titane

FORCE

Solution haute énergie

4 µm RÉSOLUTION

450 kV TENSION SOURCE

250 kgs Pièce jusqu'à

Voyez à travers les matériaux les plus denses.

Inspectez les pièces métalliques épaisses, assemblages complexes et composants fortement absorbants avec une qualité d'image optimale..

Plateformes Easytom L · Easytom B

Découvrir la gamme Force

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Dimensions pièces - tomographie industrielle

choisir son tomographe selon les dimensions de sa pièce

La taille et le poids de votre pièce influencent directement le choix du système de tomographie. Chaque plateforme est conçue pour accueillir des dimensions et des charges spécifiques, en garantissant à la fois stabilité mécanique et fiabilité de mesure.

Chez RX Solutions, nos plateformes couvrent un large éventail de configurations, depuis les petites pièces de laboratoire jusqu’aux composants industriels de grande taille.

EasyTom S : pièces compacts - précision et flexibilité

EasyTom L : pièces intermédiaires - polyvalence industrielle

EasyTom XL : pièces volumineuses - contraintes mécaniques et capacité

EasyTom B - pièces volumineuses

UltraTom : pièces volumineuses et expériences in-situ

EasyTom S : pièces compacts - précision et flexibilité

Pour les échantillons compacts (< Ø300 x 410 mm, < 5 kg), l'EasyTom S offre un encombrement minimal, sans compromis sur la qualité d'image.

N° d'axes: 4
Max SSD: 612 mm
Max volume de scan: Ø230 mm x 380 mm
Max résolution : 5µm

Echantillons
Max taille échantillon : 300 Ømm x 410mm
Max poids échantillon: 5kg
Chargeur interne 5: Ø45x155
Chargeur interne 3: Ø75x155

Général
Poids : 1020kg
Dimensions: 1345(W) x 900(D) x 1870(H)

×

EasyTom L : pièces intermédiaires - polyvalence industrielle

Pour les échantillons compacts (< Ø300 x 410 mm, < 5 kg), l'EasyTom S offre un encombrement minimal, sans compromis sur la qualité d'image.

N° d'axes: 4
Max SSD: 612 mm
Max volume de scan: Ø230 mm x 380 mm
Max résolution : 5µm

Echantillons
Max taille échantillon : 300 Ømm x 410mm
Max poids échantillon: 5kg
Chargeur interne 5: Ø45x155
Chargeur interne 3: Ø75x155

Général
Poids : 1020kg
Dimensions: 1345(W) x 900(D) x 1870(H)

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EasyTom XL : pièces volumineuses - contraintes mécaniques et capacité

Pour les échantillons compacts (< Ø300 x 410 mm, < 5 kg), l'EasyTom S offre un encombrement minimal, sans compromis sur la qualité d'image.

N° d'axes: 4
Max SSD: 612 mm
Max volume de scan: Ø230 mm x 380 mm
Max résolution : 5µm

Echantillons
Max taille échantillon : 300 Ømm x 410mm
Max poids échantillon: 5kg
Chargeur interne 5: Ø45x155
Chargeur interne 3: Ø75x155

Général
Poids : 1020kg
Dimensions: 1345(W) x 900(D) x 1870(H)

×

EasyTom B - pièces volumineuses

Pour les échantillons compacts (< Ø300 x 410 mm, < 5 kg), l'EasyTom S offre un encombrement minimal, sans compromis sur la qualité d'image.

N° d'axes: 4
Max SSD: 612 mm
Max volume de scan: Ø230 mm x 380 mm
Max résolution : 5µm

Echantillons
Max taille échantillon : 300 Ømm x 410mm
Max poids échantillon: 5kg
Chargeur interne 5: Ø45x155
Chargeur interne 3: Ø75x155

Général
Poids : 1020kg
Dimensions: 1345(W) x 900(D) x 1870(H)

×

UltraTom : pièces volumineuses et expériences in-situ

Pour les échantillons compacts (< Ø300 x 410 mm, < 5 kg), l'EasyTom S offre un encombrement minimal, sans compromis sur la qualité d'image.

N° d'axes: 4
Max SSD: 612 mm
Max volume de scan: Ø230 mm x 380 mm
Max résolution : 5µm

Echantillons
Max taille échantillon : 300 Ømm x 410mm
Max poids échantillon: 5kg
Chargeur interne 5: Ø45x155
Chargeur interne 3: Ø75x155

Général
Poids : 1020kg
Dimensions: 1345(W) x 900(D) x 1870(H)

×

Pièces très grandes ou spécifiques : solutions dédiées

Certaines applications sortent des formats standards : dimensions hors norme, géométries complexes ou contraintes d'accès spécifiques. Dans ces cas, nous concevons une solution sur mesure adaptée à votre pièce et à votre process.

Découvrir nos systèmes sur mesure

Gammes

EXPLORER

NANO

FORCE

Plateformes

EasyTom S

EasyTom L

EasyTom XL

EasyTom B

EasyTom L

EasyTom XL

UltraTom

EasyTom L

EasyTom B

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom S

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom XL

Series

Metrology Series —

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom B

Series

Metrology Series —

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO EasyTom XL

Series

Metrology Series —

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO UltraTom

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

FORCE EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

FORCE EasyTom B

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique

EXPLORER

Micro-tomographie polyvalente

2 µm RÉSOLUTION

300 kV TENSION SOURCE

< 1 µm VOXEL MIN.

Révélez l'invisible à l'échelle micronique.

Accédez aux microstructures, porosités et interfaces les plus fines grâce à une résolution jusqu'à l'échelle nanométrique.

Plateformes Easytom S · Easytom L · Easytom XL · EasyTom B

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Sciences du vivant, Bois

NANO

Analyse nanométrique

250 nm RÉSOLUTION

160 kV TENSION SOURCE

30 nm VOXEL MIN.

Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

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Injecteur en fabrication additive Titane

FORCE

Solution haute énergie

4 µm RÉSOLUTION

450 kV TENSION SOURCE

250 kgs Pièce jusqu'à

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Automatisation - tomographie industrielle

Quel niveau d’automatisation et modularité pour votre tomographe ?

Au-delà du choix du générateur, RX Solutions propose différents niveaux d'automatisation et de modularité pour gagner en productivité, en confort d'utilisation et en fiabilité au quotidien.

Un laboratoire de recherche n'a pas les mêmes attentes qu'un centre d'essais ou qu'une ligne de production industrielle. Certains utilisateurs privilégient la flexibilité et la polyvalence, tandis que d'autres recherchent une automatisation avancée pour gagner en cadence et réduire les manipulations manuelles.

Grâce à son architecture modulaire, RX Solutions permet d'adapter chaque système à vos contraintes opérationnelles, avec des solutions d'automatisation et des accessoires pouvant être intégrés dès l'installation ou ajoutés au fil de l'évolution de vos besoins.

Réduire les manipulations grâce à l’automatisation

Lorsque les analyses se répètent sur un grand nombre d'échantillons, l'automatisation permet d'améliorer la productivité tout en limitant les interventions opérateur.
RX Solutions propose plusieurs niveaux d'automatisation :

Chargement automatisé des échantillons

Les chargeurs d'échantillons permettent d'automatiser le chargement séquentiel de petites séries et d'enchaîner les acquisitions avec un minimum d'intervention humaine.

Autoloading

Pour les applications nécessitant une cadence plus importante, les solutions d'autoloading automatisent entièrement le chargement et le déchargement des pièces afin d'assurer un fonctionnement continu.

[CTA] Échanger avec un expert sur l'automatisation
CTA : Lire l'article sur l'automatisation du chargement

Roue à filtre - tomographie industrielle

Adapter la configuration à chaque inspection

Certaines applications nécessitent des réglages différents selon les matériaux inspectés, les résolutions recherchées ou les protocoles utilisés.
Pour limiter les interruptions et conserver une utilisation fluide du système, plusieurs options de reconfiguration sont disponibles :

Changeur de filtres

Permet de sélectionner automatiquement le filtre adapté à l'analyse sans intervention manuelle.

CTA : Lire l'article sur la roue à filtre

Support détecteur interchangeable

Facilite le changement de détecteur en quelques instants afin d'adapter rapidement le système à différentes configurations d'inspection.

Platine centrage - tomographie industrielle

LIDAR anti-colision - tomographie industrielle

Améliorer le confort d'utilisation et la sécurité

La modularité ne concerne pas uniquement la productivité. Elle contribue également à la protection du système, à la sécurité des opérateurs et au confort d'utilisation quotidien.
Selon les besoins, différentes options peuvent être intégrées :

Lidar anticollision pour protéger les équipements lors des mouvements ;
Portes vitrées pour visualiser la zone d'analyse en toute sécurité ;
Platine de centrage motorisée pour faciliter le positionnement des pièces ;
Cellules dédiées aux essais sous contraintes pour les applications In-Situ et 4D CT.

CTA : Page In Situ

Gammes

EXPLORER

NANO

FORCE

Plateformes

EasyTom S

EasyTom L

EasyTom XL

EasyTom B

EasyTom L

EasyTom XL

UltraTom

EasyTom L

EasyTom B

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom S

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom XL

Series

Metrology Series —

Fab Series

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

EXPLORER EasyTom B

Series

Metrology Series —

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO EasyTom XL

Series

Metrology Series —

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

NANO UltraTom

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

FORCE EasyTom L

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

FORCE EasyTom B

Series

Metrology Series

Fab Series —

Performances

Résolution

Densité de l'échantillon

Pièce aérospatiale en fabrication additive métallique

EXPLORER

Micro-tomographie polyvalente

2 µm RÉSOLUTION

300 kV TENSION SOURCE

< 1 µm VOXEL MIN.

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NANO

Analyse nanométrique

250 nm RÉSOLUTION

160 kV TENSION SOURCE

30 nm VOXEL MIN.

Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

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FORCE

Solution haute énergie

4 µm RÉSOLUTION

450 kV TENSION SOURCE

250 kgs Pièce jusqu'à

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Quel type d'analyse tomographique souhaitez-vous réaliser ?

La résolution, le matériau, la taille des pièces et le niveau d'automatisation permettent de définir l'architecture du système de tomographie. Le choix final dépend également du type d'analyse que vous souhaitez réaliser.

Contrôle qualité, caractérisation de matériaux, métrologie, analyse de porosité, études de batteries, fabrication additive ou encore recherche scientifique : chaque application présente des exigences spécifiques en termes d'acquisition, de reconstruction et de traitement des données.

Chez RX Solutions, nos systèmes peuvent être configurés pour répondre à une grande diversité d'applications industrielles et scientifiques.

FAQCHoisir son système de tomographie industrielle

Comment choisir un système de tomographie industrielle ?

Le choix dépend principalement du niveau de détail recherché, du matériau à inspecter, de la taille des pièces, du niveau d'automatisation souhaité et du type d'analyse à réaliser.

Quelle est la résolution maximale que peut atteindre un tomographe RX Solutions ?

Quelle est la différence entre Mesofocus, Microfocus et Nanofocus ?

Peut-on inspecter une pièce composée de plusieurs matériaux différents ?

Quelle est la taille maximale de pièce que peut accueillir un tomographe RX Solutions ?

Peut-on faire évoluer un système de tomographie ?

Peut-on changer rapidement de configuration entre deux inspections ?

Quel type d'analyse peut-on réaliser avec un tomographe RX Solutions ?

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300 kV TENSION SOURCE

< 1 µm VOXEL MIN.

Révélez l'invisible à l'échelle micronique.

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Révélez les plus petits détails avec une précision nanométrique.

Résolutions nanométriques pour caractériser microstructures, porosités et interfaces à une échelle impossible à atteindre par microscopie optique.

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Voyez à travers les matériaux les plus denses.

Inspectez les pièces métalliques épaisses, assemblages complexes et composants fortement absorbants avec une qualité d'image optimale..

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